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X射線熒光光譜儀的發展原理

來源:未知作者:admin 發布時間:2021-07-01 05:07:12 閱讀次數:84

歐潤智能小編先給大家普及一下,X射線熒光光譜儀的物理原理。
 X射線熒光光譜儀的發展原理
當材料暴露在短波長X光檢查,或伽馬射線,其組成原子可能發生電離,如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢,足以驅逐內層軌道的電子,然而這使原子的電子結構不穩定,在外軌道的電子會“回補”進入低軌道,以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源,光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此,物質放射出的輻射,這是原子的能量特性。
 
自 1895 年德國物理學家倫琴發現了 X 射線 ,1896 年法國物理學家喬治發現了X射線熒光 ,1948 年弗利德曼和伯克斯首先研制了第一臺商品性的波長色散 X射線熒光光譜儀以來 ,X射線熒光光譜分析技術發展迅速。
 
尤其是 20 世紀 90 年代以來 ,隨著電子技術和計算機的飛速發展 ,X 射線熒光光譜儀和 X射線熒光分析技術及其計算機軟件的不斷開發 ,X射線熒光光譜儀現已由單一的波長色散 X射線熒光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子 X射線光譜儀等一大家族。
 
X射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的 X射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。
 
X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測 ,對產品和材料質量進行無損檢測 ,對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段 ,也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。同時 ,X射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面首選儀器之一。
 

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