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哪些原因可能會引起手持式重金屬檢測儀誤差(上)

來源:未知作者:admin 發布時間:2021-11-06 05:11:37 閱讀次數:54

手持式重金屬檢測儀是一種相對分析儀器,這意味著為了獲得結果,需要將未知樣品中收集的數據與儀器上的標樣數據相比較,并將其與已經建立的物理公式相聯系。雖然此種技術有較高的接受度,很多用戶也接受過正確使用的培訓,但有些情況會影響結果并引起誤差。歐潤小編在此為大家總結一下:
 哪些原因可能會引起手持式重金屬檢測儀誤差(上)
一、樣品未聚焦
 
這是測量零件的關鍵步驟。聚焦使X射線管、零件和探測器間保持固定的距離。X射線強度會隨著距離的增加而衰減,因此,X射線管和探測器與樣品間的距離太遠,會導致手持式重金屬檢測儀的測量結果偏薄。
 
而X射線管和探測器與樣品間的距離太近會導致測量結果偏厚。對于多層鍍層,此種情況更甚,因為距離數據被在計算中錯誤使用。
 
二、零件放置方向不正確
 
對于平直零件,旋轉角度不是問題,因為XRF信號不受影響。但是,對于彎曲零件,非常重要的是,將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致。
 
這使零件對齊更容易且數據再現性更好,這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部,而不是側壁上。與前述聚焦的情況類似,錯位測量也會改變X射線管樣品-探測器間的距離。在極端情況下,零件未對齊可能會使所有XRF信號無法到達探測器。
 
三、基材變化
 
基于鍍層和基底中的材料,基底中的元素會影響鍍層的XRF特性。以上是眾所周知的事實,因此,使用與待測量的零件相似的材料以創建校準程序可獲得更好效果。如果零件的基底材料與校準標樣所使用的基底不同,手持式重金屬檢測儀的結果可能會有誤差。
 
例如,在青銅(CuSn)基底上鍍鎳(Ni)和金(Au)的零件。青銅基底中的錫(Sn)幾乎可以起到輔助X射線源的作用,使鍍層產生更多X射線熒光信號。如果使用純銅(Cu)基底進行校準,則錫(Sn)的二次熒光作用未被正確計入計算模型中,從而導致歐潤手持式重金屬檢測儀對鎳和金的測量結果不正確。
 

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