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哪些原因可能會引起手持式重金屬檢測儀誤差（上）

來源：未知作者：admin 發布時間：2021-11-06 05:11:37 閱讀次數：54

手持式重金屬檢測儀是一種相對分析儀器，這意味著為了獲得結果，需要將未知樣品中收集的數據與儀器上的標樣數據相比較，并將其與已經建立的物理公式相聯系。雖然此種技術有較高的接受度，很多用戶也接受過正確使用的培訓，但有些情況會影響結果并引起誤差。歐潤小編在此為大家總結一下：

哪些原因可能會引起手持式重金屬檢測儀誤差（上）

一、樣品未聚焦

這是測量零件的關鍵步驟。聚焦使X射線管、零件和探測器間保持固定的距離。X射線強度會隨著距離的增加而衰減，因此，X射線管和探測器與樣品間的距離太遠，會導致手持式重金屬檢測儀的測量結果偏薄。

而X射線管和探測器與樣品間的距離太近會導致測量結果偏厚。對于多層鍍層，此種情況更甚，因為距離數據被在計算中錯誤使用。

二、零件放置方向不正確

對于平直零件，旋轉角度不是問題，因為XRF信號不受影響。但是，對于彎曲零件，非常重要的是，將零件的軸與X射線管和探測器的軸向保持一致。

這使零件對齊更容易且數據再現性更好，這可以方便X射線束照射在凸形零件頂部或凹形零件底部，而不是側壁上。與前述聚焦的情況類似，錯位測量也會改變X射線管樣品-探測器間的距離。在極端情況下，零件未對齊可能會使所有XRF信號無法到達探測器。

三、基材變化

基于鍍層和基底中的材料，基底中的元素會影響鍍層的XRF特性。以上是眾所周知的事實，因此，使用與待測量的零件相似的材料以創建校準程序可獲得更好效果。如果零件的基底材料與校準標樣所使用的基底不同，手持式重金屬檢測儀的結果可能會有誤差。

例如，在青銅（CuSn）基底上鍍鎳（Ni）和金（Au）的零件。青銅基底中的錫（Sn）幾乎可以起到輔助X射線源的作用，使鍍層產生更多X射線熒光信號。如果使用純銅（Cu）基底進行校準，則錫（Sn）的二次熒光作用未被正確計入計算模型中，從而導致歐潤手持式重金屬檢測儀對鎳和金的測量結果不正確。

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